Функциональные характеристики
Модульная конструкция прибора позволяет максимально точно подобрать комплектацию прибора с учетом задач заказчика и производить одновременные измерения шероховатости и профиля поверхности. Обеспечивает хранение неограниченного числа измерительных программ и протоколов.
Возможность использования любых принтеров, поддерживаемых Windows. Возможность сопряжения со всеми программами Windows, напр. Winword, Excel, Write, Access и т.д. Имеется возможность контроля микро- и макропрофилей, а также определения топографии поверхности.
Характеристики
Принцип измерения | контактный, с применением опорных и безопорных щупов |
Класс точности по DIN4772 | Класс 1 (3%) |
Диапазон измерения/разрешение | ± 8 мкм / 1 нм |
± 80 мкм / 10 нм | |
± 800 мкм / 100 нм | |
± 8000 мкм / 1000 нм | |
Единицы измерения | Переключаемые мкм/мкдюйм |
Применяемые фильтры: | |
отсечка шага | 0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8 (мм), |
выбираемая | |
DIN 4768 | RC дискретно вычисляемый (мм), |
предельная длина волн 0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8 | |
DIN EN ISO 11562, часть 1, (50% Гаусс) | Гаусс (М1) цифровой фильтр (мм), |
предельная длина волн 0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8 | |
DIN EN ISO 13565-1 | Двойной Гаусс (М2), Rk-параметры |
предельная длина волн 0,025; 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8 | |
ISO 3274/11562 | Предельная длина коротких волн лs |
выбор по ступеням λc / λs 30; 100; 300 | |
Скорость трассирования vt | lt - заданная 0,05; 0,15; 0,5 мм/с |
или переменная 0,01 - 2,0 мм/с на 0,01 ступени | |
Длина трассирования lt | 0,48; 1,5; 4,8; 15; 48 мм или переменная от до 0,1 - 200 мм |
Длина оценки lm | 0,40; 1,25; 4,0; 12,5; 40 мм или переменная отсечка предельной длины волн |
Отсечка шага λ [мм] | 0,08; 0,25; 0,8; 2,5; 8 |
Измеряемые параметры шероховатости | |
DIN EN ISO 4287 | Ra; Rz; Rmax; Rt; Rq; Rsk; lmo; lo; Rdq; da; ln; La; Lq; Rz-ISO; R3z; Rpm; Rp3z; R3zm; Rp; D; RPc; RSm; Rpm/R3z; lr; Rku; tpif; Rdc; tpia; tpip; tpic; Rt/Ra; Rz1; Rz2; Rz3; Rz4; Rz5; Rmr; Rmr%; Api |
по DIN EN ISO 13565 | Rk parameters Rpk |
; Rpk; Rk; Rvk*; Rvk; Mr1; Mr 2; A1; A2; Vo (70 %) 0.01*Rv / Rk | |
Профильные параметры по DIN EN ISO 4287 | Pt.; Pp; Pz; Pa; Pq; Psk; PSm; Pdq; lp; Pku; tpaf; tpaa; tpab; tpac; Pmr0; APa; APa%; Pmr; Pmr%; Pdc |
Параметры волнистости по DIN EN ISO 4287 | Wt.; Wp; Wz; Wa; Wq; Wsk; WSm; Wdq; lw; Wku; Wdc |
Параметры волнистости по VDA 2007 | WD1c; WD1t; WD1sm; WD2c; WD2t; WD2sm |
Параметры Motif по DIN EN ISO 12085 | R; Rx; AR; Nr; W; Wx; AW; Nw; Wte; Pδ c (CR, CL, CF) |
Статистика | от 1 до 999 измерений, диапазон, макс., мин., отклонение |
Режимы работы | Измерение шероховатости, проведение измерений, дистанционное управление, юстировка, разработка программ, топография |
Выравнивание профиля | инверсия, грубое. точное, частичное |
Подключаемые периферийные устройства: | Механизмы подачи wavelineTM 20 / 60 / 120 / 200 |
Моторизованные колонны wavelift 400 / wavelift 800 | |
Поворотная опора wavetilt 60 / 120 / 200 | |
Датчики измерения контура: индуктивный, цифровой, сканирующий | |
топография поверхности: устройство позиционирования по оси Y | |
поворотный модуль waverotor RV150 для трассирования колец вдоль образующей | |
Электропитание | 100 В - 120 В / 200 В - 240 В, переключаемое, 50 - 60 Гц, 235 ВА |
Рабочая температура | +5 °C От до +40 °C, относительная влажность воздуха макс. 85% без конденсата, (ΔТ=2ºС/ч) |
Температура хранения | От -20 °C до +50 °C |