Отслеживание какого-то отдельного элемента бывает очень сложным, а иногда и невыполнимым. FEI предлагает решение, позволяющее эффективно совместить оптическую и электронную микроскопию, позволяя получать комплексные данные благодаря одновременному использованию нескольких методик.
Платформа CorrSight™ разработана компанией FEI как комплекс средств по оптимизации и автоматизации основных этапов в рамках корреляционного рабочего процесса. Для получения необходимых результатов пользователи теперь могут конфигурировать полностью автоматическую систему визуализации, выбирая необходимые модули микроскопии из всего комплекса инновационного оборудования компании FEI.
Интегрированное программное обеспечение управляет как рабочим процессом в целом, так и электронной микроскопией, выполняя при этом автоматическую настройку прибора и получение соответствующих изображений.
Независимо от конфигурации, система CorrSight обеспечивает высокую степень автоматизации рабочего процесса и полную интеграцию различных платформ визуализации.
Основные преимущества
- Автоматизация перехода от оптической к электронной микроскопии
- Простота и высокая скорость проведения корреляционных экспериментов
- Более высокий качественный и количественный уровень данных
- Минимальное участие оператора
- Практическое совмещение современной оптической и электронной микроскопии
- Быстрое получение данных